池田理化オンラインカタログ

レーザー回折・動的画像式 粒子径・形状解析装置
Partica

堀場製作所

レーザー回折・動的画像式 Partica

“見える”で広がる微粒子の世界
~粒子径分布と粒子形状を1台で測定し、粒子を多面的に解析~
材料開発や製造プロセスの最適化において、粒子径分布の把握は重要な評価指標の一つです。しかし、粒子径情報だけでは、粒子がどのように凝集しているのか、個々の粒子の形状の違いなど特性を十分に把握できない場合があります。Particaは、粒子径分布と粒子形状を同時に取得することで、粒子を多面的に評価する新しい粒子解析アプローチを実現します。

多面的粒子解析による課題解決

  • 10nm〜5mm(レーザー回折/散乱式)のワイドレンジ、液体・スラリー・粉体・高濃度試料など多様な試料形態に対応
  • 迅速な評価を支援(レーザー回折/散乱式による粒子径分布は約1分、動的画像解析式による粒子形状は数分で測定)
  • 形状の異なる粒子のスクリーニングなどに活用(約40種類の粒子形状指標を取得)
  • データインテグリティに配慮したソフトウェア設計や、自動化機能で省人化・省力化を実現
        

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型式・型番 レーザー回折・動的画像式 粒子径・形状解析装置 Partica
測定原理 レーザー回折/散乱式(Mie散乱理論)
動的画像解析法(2カメラ搭載)
測定範囲 レーザー回折/散乱法:0.01~5000μm
動的画像解析法:0.3~8000μm ※試料に依存します
サイズ・重量 W720×D565×H470mm 約56kg
電源 AC100~240V 50/60Hz 300VA
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